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正置金相测量分析显微镜

正置金相测量分析显微镜

采用平场消色差光学系统和落射式柯拉照明系统,同时在落射照明系统中设计防反射结构,有效防止反射光干扰成像光线,从而使成像更清晰、视场衬度更好。

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  • 地   址:
    北京 朝阳区 酒仙桥路甲10号星城国际大厦B座2203室
类型:金相显微镜品牌:HLEO光电汇龙型号:HL-JXM200A
目镜放大倍数:10X物镜放大倍数:5X 10X 20X 50X仪器放大倍数:500X
重量:3000g适用范围:广泛应用于各类半导体硅晶片检测、材料科学研究、地质矿物分析及精密工程等学科领装箱数:1
加工定制:否规格:HL-JXM200A光源:同轴卤素灯
三目:视频转换器:内定位4孔转换器

正置金相测量分析显微镜详细介绍

产品名称:正置金相测量分析显微镜
产品品牌:HL-JXM200A
产品简介:采用平场消色差光学系统和落射式柯拉照明系统,同时在落射照明系统中设计防反射结构,有效防止反射光干扰成像光线,从而使成像更清晰、视场衬度更好。 提供稳定可靠的操作机构,使成像更清晰,操作更简便。 显微镜镜体采用全新的人机工程学设计,结构匀称,实现镜体扩展积木化。 工作台、光强与粗微调的低位操作,提高了使用的舒适性。 广泛应用于各类半导体硅晶片检测、材料科学研究、地质矿物分析及精密工程等学科领
产品概述&参数

部件名称

基本描述

目镜

高眼点大视野平场目镜10X/18MM

物镜

长工作距平场消色差金相物镜5X/0.13     WD=15.5MM


长工作距平场消色差金相物镜10X/0.25    WD=8.7MM


长工作距平场消色差金相物镜20X/0.40    WD=8.8MM


长工作距平场消色差金相物镜50X/0.60    WD=5.1MM

观察头

铰链式三目观察筒,30度倾斜,360度倾斜,视度可调

机架

低手位粗微同轴调焦机构,微调精度0.002MM,带有防止下滑的调节松紧装置和防止打坏切片,快速聚焦的随机限位装置,内置6V30W透射光照明,上下照明切换。

转换器

内定位4孔转换器

平台

复合式双层机械平台,台面尺寸:140MMX132MM(附180X145MM平板平台,102X102MM玻璃载物台,便于放置较大尺寸的样品),移动范围:76MMX50MM,精度0.1MM

透反射照明系统

100-240V宽电压,灯丝中心可调,光强连续可调,可变孔径光阑,可变视场光阑,中心可调

灯泡

进口长效6V/30W卤素灯泡

聚光镜组

N.A1.25坷拉照明聚光镜组(带插板式的相衬,暗场附件接口),预置中心,齿轮齿条升降(固定式坷拉照明)

配件

蓝色滤色片

粗动手轮松紧调节扳手


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